IM7583|IM7583|IM7583阻抗分析仪的详细资料

品牌:HIOKI
产地:JAPAN
供应商:betway必威精简版
HIOKI日置IM7583|IM7583|IM7583阻抗分析仪产品介绍
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高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:zui快0.5ms

● 测量频率:1MHz~600MHz
● 测量时间:zui快0.5ms(模拟测量时间)
● 基本精度:±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪的测试治具。

阻抗分析仪IM7580s:等效电路分析功能

能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且,可以通过模拟功能,使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外,使用比较器功能,还能够确定测量结果是否在判定区域内。

阻抗分析仪IM7580系列:

使用SMD治具IM9201进行LCR测量

IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用,能够简单准确的测量样品。

区域判定功能

分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围,并以IN/NG来显示判定结果。

峰值判定功能

分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围,并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。

SPOT判定功能

分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数,zui多进行16点的判定。

比较器功能

使用比较器功能,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
适用于判定样品是否合格的功能。

接触检查功能

使用接触检查功能,能够检查样品和测量端口的接触状态,并确认接触不良情况和连接状态。

测试头的连接方法

测试头的连接线连接阻抗分析仪。
稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母(0.56 N・m)。
请注意不要拧过头。

基本参数(精度保证时间1年,调整后精度保证时间1年)

测量模式	LCR(LCR测量),分析(扫频测量),连续测量
测量参数	Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保证范围	100 mΩ~5 kΩ
显示范围	Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
基本精度	Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38°
测量频率	1 MHz~600 MHz (设置分辨率100kHz)
测量信号电平	功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm 电压 (V)模式: 4 mV~502 mVrms 电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02 mArms
输出阻抗	50 Ω (10 MHz时)
显示	彩色TFT8.4英寸、触屏
测量时间	zui快0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值)
功能	接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿
接口	EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN RS-232C (选件), GP-IB (选件)
电源	AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
体积和重量	主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg 测试头: 90W × 64H × 24D mm, 300 g
附件	电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1

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